Image d'amplitude de vibration en DFRT PFM sur nanofils de ZnO (Vac = 300mV / max vibration 70pm / taille : 500nm x 175nm)
Image d'amplitude de vibration latérale en DFRT PFM sur couche de KNNO (Vac = 300 mV / taille : 1µm x 350nm)

Scanning Joule Expansion Microscopy

où comment faire du SJEM avec un quelconque AFM, juin 2020

Mon collègue de l'INL Etienne Puyoo et moi même avons publié un article en utilisant la technique SJEM

Nous avons mis en évidence la création d'un point chaud entre deux électrodes séparées par une couche isolante par microscopie à force atomique en mode contact.

DOI : 10.1109/LED.2020.2986543

A propos de moi

Bienvenue sur mon site. Je me nomme David ALBERTINI et je suis ingénieur de recherche CNRS en microscopie champ proche depuis 1999. Je suis passionné par la programmation web sans être un grand expert. Je propose de lier mon métier à ma passion dans mon site web.