En tant qu'utilisateur expert des électroniques Zurich Instruments, j'ai été interviewé par ces derniers sur mon travail d'ingénieur de recherche dans un laboratoire français et sur l'utilisation que je fais de ces électroniques.
A l'INL nous disposons de deux détections synchrones HF2LI reliées à nos microscopes champ proche sur lesquels nous avons développé les mesures de Piezo Force Microscopy (PFM) en suivi de fréquence pour les matériaux ferroélectriques. Depuis, j'ai développé ces modes et d'autres sur les différents microscopes du laboratoire (NTMDT, Bruker et Omicron) et ainsi démontré une réelle expertise de notre laboratoire dans ce domaine.
L'interview est sur le site web de Zurich Instruments ici.
Sous ma responsabilité, Adrianos Sidiras Galante, stagiaire d'IUT à Villeurbanne, a écrit un programme en Python pour imager telles des images AFM, les valeurs des demods d'une électronique Zurich Instruments HF2LI.
Pour cela, il fallait se synchroniser avec l'électronique Nanoscope V de mon microscope Bruker Dimension 3100.
Le programme Zi² est fonctionnel et me permets de faire des images en plus de celles du microscope (topographie...) et en plus de celles que j'envoie directement sur l'électronique (via les aux). Donc, sur un passage, j'ai une miltitude de canaux enregistrés. En plus, les images produites par Zi² sont enregistrées sous le format Gwyddion.
Nous avons ouvert un Github pour proposer le code à la communauté. Cependant, nous l'avons protégé en le mettant sous la licence CECILL-C. Il doit rester open-souce et sous cette licence et vous devez citer Adrianos.
Une documentation et un wiki sont disponibles sur le Github. Vous trouverez sur ma page dans la rubrique Vulgarisation / Mes tutoriels. Une première vidéo pour la présentation et l'installation du logiciel Zi².
Mise à jour décembre 2020 : notre application a fait l'objet d'une "histoire d'utilisateurs" (user story: Capturing SPM images with LabOne) dans la lettre d'information de Zurich Instruments. A retrouver ici
Mon collègue de l'INL Etienne Puyoo et moi même avons publié un article en utilisant la technique SJEM
Nous avons mis en évidence la création d'un point chaud entre deux électrodes séparées par une couche isolante par microscopie à force atomique en mode contact.
DOI : 10.1109/LED.2020.2986543
Bienvenue sur mon site. Je me nomme David ALBERTINI et je suis ingénieur de recherche CNRS en microscopie champ proche depuis 1999. Je suis passionné par la programmation web sans être un grand expert. Je propose de lier mon métier à ma passion dans mon site web.